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MW5 系列 探針型暗室 (Probing OTA Chamber)
MW5 完整且高精度的毫米波量測解決方案，專注於毫米波元件之 S 參數量測 與 天線輻射特性分析，滿足通訊、雷達與先進封裝等高階應用需求。量測系統依型號，可涵蓋 10–110 GHz 頻段，支援 S11、S21 等關鍵電性指標，可精準評估元件匹配特性與傳輸效能，確保設計品質與一致性。
整體設備結合高倍率光學顯微系統與精密探針量測平台，適用於晶片、模組與天線結構之多元量測需求。以專業設備與技術支援，協助客戶加速產品驗證流程，提升毫米波設計效能與市場競爭力。
MW5是一個檢測 AiP 元件(Antenna in Package) 的 OTA 暗室系統，用來量測毫米波頻段的天線在還沒打上相控IC板前的特性。由於IC成本高而且使用的數量多，MW5 的探針量測技術可以校正到針尖，從IC接點處下探針就可以量測出電路毫米波頻段的 S 參數及天線特性，並且預測打上IC後的Load Pull、G/T、beam chart，大幅度節省研發成本，增加產品測試效率。
MW5的主要特色之一是以探針包暗室的方式來設計。在傳統檢測流程上，通常是需要分別下針後再移動到 OTA 檢測環境，MW5在設計上則結合了下針及天線量測OTA的功能，除了避免造成搬運針台過程中斷針風險，也可以同時完成電路毫米波頻段Ｓ參數與輻射場型量測。
天線量測部分採用 3D CATR 掃描架構，具備 0–360° 方位角與 0–90° 仰角旋轉能力，可完整量測天線方向圖、增益與效率等輻射特性。系統配置低介電係數量測平台與高等級抑震防震架，有效降低外在干擾，確保毫米波量測的穩定性與重現性。
六大特色：
創新專利設計：開放式的針台方便操作人員下針，並且將針台結合OTA暗室設計，避免下針後移動造成斷針與誤差。
All in One 功能設計：從天線封裝打上IC前、後，乃至最終產品性能驗證階段皆可做精準量測，協助工程師嚴謹把關開發階段的產品性能。
主動與被動OTA量測：被動性能如Ｓ參數、輻射場型、group delay，主動性能如訊號強度EIRP、都普勒效應皆可量測。
3D-CATR OTA系統：將OTA系統以3D-CATR的方式做設計，並且為了量測各個角度輻射場型，在旋轉軸心加入旋轉波導。
量測頻率範圍廣泛：除了MW5系列還有別種規格的產品，頻率從24~300 GHz皆可量測，可針對不同需求的客戶做使用。
適用於相控陣列的波束建模演算法：除了搭配標準探針，也可搭配高阻抗針，在實際操作時量測相控陣列的即時振幅與相位差異，通過調整每個天線的相位和幅度，可以將電磁波能量集中在特定的方向，以達到相控陣列產品的調校。
MW5 各系列暗室
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